日本nanogray B射線測厚儀SB-1100

這是使用β射線（β射線）的測厚儀（薄膜測厚儀）。以非接觸方式（β射線）測量片材和板狀物體的厚度和密度（基重）。不是直接測量厚度，而是通過與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度（基重）。
　通常，為了測量片材寬度方向的厚度分布，檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶進行測量。激光位移計一般用作非接觸方式測量厚度的手段，但如果激光位移計安裝在掃描儀上，在運輸過程中只能以遠低于激光位移計的精度進行運輸, 導致結(jié)果. 高精度測量是困難的。
　另一方面，在β射線測厚儀等通過透射衰減估算厚度的方法中，測量的是空氣層-樣品-空氣層與滲透之間的衰減，但樣品的衰減遠大于，傳輸?shù)挠绊懼槐憩F(xiàn)為空氣層厚度的變化，影響很小。因此，可以高精度地進行測量。

β射線測厚儀的一般特點

1. 可以在不依賴元素的情況下測量基重。
   

與傳統(tǒng)的 β 射線測厚儀相比，我們的 β 射線測厚儀的特點

1. 無需設(shè)置資質(zhì)或控制區(qū)域（認證設(shè)備帶顯示）
   

2. 探測器和 β 射線源體積小、重量輕，即使在狹窄的線路中也可以安裝。
   

用途

• 塑料薄膜（多層擠塑薄膜等）
  

• 電池電極（鋰離子電池（負極/正極）、鎳氫電池等）
  

• 玻璃纖維布
  

• 陶瓷片
  

• 銅箔、鋁箔、不銹鋼箔

日本nanogray B射線測厚儀SB-1100