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日本densoku電解質(zhì)膜測厚儀GCT-311
更新日期:2024-05-11
訪問量:616
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址:
簡要描述:
日本densoku電解質(zhì)膜測厚儀GCT-311多點同時測??量渦流式膜厚計X射線熒光膜測厚儀電解膜厚儀電解膜厚儀GCT-311電解膜厚儀CT-4電解膜厚儀CT-3渦流膜厚儀電阻式膜厚計便攜式薄膜測厚儀
日本densoku電解質(zhì)膜測厚儀GCT-311
日本densoku電解質(zhì)膜測厚儀GCT-311
電解膜厚儀GCT-311
Windows規(guī)格,
全功能可進行多達5層的多層膜測量
?通過使用個人計算機提高了可操作性和增強的功能
?使用Windows規(guī)格輕松進行數(shù)據(jù)處理
?多可以注冊50個測量通道
?多層膜的測量條件多可以設(shè)置5層
?發(fā)生異常值時測量值在紅色報告中,帶有顯示和警告聲
電解膜厚儀GCT-311的特點
改進的可操作性和增強的功能
通過使用個人計算機,提高了可操作性并增強了功能。
方便的數(shù)據(jù)處理
使用Windows規(guī)范可以輕松完成數(shù)據(jù)處理。
多可以注冊50個頻道
多可以注冊50個測量通道。
多5層多層膜
多層膜多可以設(shè)置5個層的測量條件。
異常值發(fā)生時具有警告功能
通過設(shè)定上限和下限發(fā)生異常值時,測量值顯示為紅色,并顯示警告聲。
自動顯示所用電解液的類型
膜和基材的組合會自動顯示所用電解質(zhì)的類型。
易于檢查的顯示處理方法
您可以檢查測量單位的顯示處理方法。
純錫層和合金錫層可分別測量
可以對純錫層和合金錫層分別進行“錫/銅”測量。
輕松測量雙鎳和三鎳之間的電勢差
通過使用比較電極(選件)和電勢圖測量,可以輕松地測量雙鎳和三鎳之間的電勢差。
測量畫面
測量條件設(shè)定畫面
電位測量畫面
直方圖
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